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英国KP开尔文探针扫描

   日期:2024-02-26     浏览:3    
英国KP开尔文探针扫描是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(WorkFunction)或半导体、绝缘表面的表面势(SurfacePotential)。材料表面的功函数通常由Z上层的1-3层原子或分子决定,所以开尔文探针是一种Z灵敏的表面分析技术。

开尔文探针扫描系统包括:

□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);

□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);

□超真空(UHV)开尔文探针;

□湿度控制的腐蚀开尔文探针;

开尔文探针扫描系统配置

这是一款可以被大多数客户所接收的扫描开尔文探针系统,它是在ASKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置,其规格如下:

□2毫米,50微米探针;

□功函数分辨率1-3meV(2毫米针尖),5-10meV(50微米针尖);

□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内;

□表面势和样品形貌3维地图;

□探针扫描或样品扫描选配;

□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置;

□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌);

□备用的针尖放大器;

□24个月超长质保期。

更多详情:http://www.airtest.net.cn/Products-31156705.html
https://www.chem17.com/st17159/product_31156705.html
原文链接:http://www.19861866.com/hangqing/2112.html,转载和复制请保留此链接。
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